IEC 62321 标准 – 2013版
IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通过最终国际标准版草案(FDIS) 阶段,目前已正式公布。 有关电子产品中特定有害物质测定的标准 – IEC62321,概述了电子产品的测试方法,以确定产品中的有害化学物质浓度低于欧盟有害物质限制指令(RoHS)法律中制定的有害化学物质浓度。如同以往,2008版的IEC62321标准也经过了一段维护周期,现今再将最佳的操作和先进的技术引入测试程序,以确保实验的一致性和可靠度,满足标准的制定。2013版的最主要变化在于将文件拆分成一系列标准,以利标准维护,同时导入新的测试方法或仪器,例如燃烧 – 离子层析仪(C-IC) 和冷蒸汽原子萤光光谱仪(CV-AFS)。 IEC 标准 范围 62321-1 简介和概述 62321-2 样品的拆卸、拆解和机械拆分 62321-3-1 使用X射线萤光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴进行筛选 62321-3-2 使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选 62321-4 使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚