IEC 62321 標準 – 2013版
IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通過最終國際標準版草案(FDIS) 階段,目前已正式公佈。 有關電子產品中特定有害物質測定的標準 – IEC62321,概述了電子產品的測試方法,以確定產品中的有害化學物質濃度低於歐盟有害物質限制指令(RoHS)法律中制定的有害化學物質濃度。如同以往,2008版的IEC62321標準也經過了一段維護週期,現今再將最佳的操作和先進的技術引入測試程序,以確保實驗的一致性和可靠度,滿足標準的制定。 2013版的最主要變化在於將文件拆分成一系列標準,以利標準維護,同時導入新的測試方法或儀器,例如燃燒 – 離子層析儀(C-IC) 和冷蒸汽原子螢光光譜儀(CV-AFS)。 IEC 標準 範圍 62321-1 簡介和概述 62321-2 樣品的拆卸、拆解和機械拆分 62321-3-1 使用X射線螢光光譜儀對電子產品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴進行篩選 62321-3-2 使用C-IC對聚合物和電子產品中的總溴進行篩選 62321-4 使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚